激光干涉测量法是一种利用激光作为光源，以激光波长或激光频率为基准，通过光的干涉原理进行精密测量的方法。这种方法的基本原理在于利用两列或多列激光在空间叠加时产生的干涉现象来测量物体的位移、形变或其他物理量。

具体来说，当两列激光的光程差发生改变时，它们的相位差也会发生变化，从而在叠加区域产生明暗相间的干涉条纹。这些干涉条纹的变化与光程差的变化有着直接的关系，因此可以通过观察和测量干涉条纹的变化来推断出待测物体的位移或形变。

激光干涉测量法具有极高的测量精度，可以达到纳米甚至亚纳米级别。因此，它在科学研究、工业制造、医疗等领域都有广泛的应用。例如，在科学研究领域，激光干涉仪常用于测量微小位移和形变，如光学元件的表面形态和位移，以及材料的热膨胀、压力变形等；在工业制造领域，激光干涉仪被用于检测和测量零件的形状、尺寸以及机械零部件的运动、振动和变形等；在医疗领域，激光干涉仪则可用于眼科手术和体内干涉成像等。

总的来说，激光干涉测量法是一种高精度、高灵敏度的测量方法，对于推动科学技术的发展和提高产品质量具有重要意义。