双85试验，也称为双85测试，是指在温度85℃和相对湿度85%的环境下对电子元件进行的加速老化试验。这种测试方法通过模拟极端的高温高湿环境，来评估电子元件在长时间暴露于该环境下的性能和可靠性。

双85试验的主要目的包括：

评估电子元件在高温高湿环境下的功能稳定性和可靠性。

检查电子元件在高温高湿环境下是否能正常工作，功能是否受损。

监测电阻、电容、电流等电气参数的变化情况，以评估电子元件的电气性能稳定性。

观察电子元件的物理形态变化，如变形、开裂等现象，评估其物理稳定性。

评估电子元件的耐腐蚀性和材料劣化情况，以预测其使用寿命。

双85试验广泛应用于电子电器、光伏、LED、太阳能等行业，特别是针对需要在高温高湿环境下工作的电子元件。例如：

电子元器件：如电阻、电容、电感、半导体器件等，这些元器件在电子设备中起着关键作用，其性能和可靠性直接影响整个设备的性能。

印刷电路板（PCB）：PCB是电子设备中不可缺少的组成部分，其性能和可靠性对设备的整体性能有着重要影响。

LED灯具和模组：这些产品在日常使用中需要承受各种环境条件，包括高温高湿环境，因此需要进行双85试验来验证其安全可靠性和使用寿命。

双85试验在电子元件的研发和质量控制中扮演着至关重要的角色。通过模拟高温高湿环境，测试能够提前暴露电子元件可能存在的问题和缺陷，为产品的改进和优化提供重要依据。同时，测试数据还可以用于评估电子元件的使用寿命和可靠性，为产品的市场推广和售后服务提供有力支持。