低频噪声是电子元器件在低频段频率范围内的电噪声（电子元器件内部的载流子随机运动引起的电压或电流的涨落），频率范围一般在1Hz~300kHz。

电子器件的低频噪声是表征电子元器件质量和可靠性的敏感参数，制约着整机检验灵敏度、噪声大小以及保真度、误触发率、分辨率等指标，由于低频噪声与元器件材料内部的导电微粒的不连续性，以及半导体的掺杂浓度等工艺有关，在噪声中包含大量器件物理特性信息，通过噪声测试分析能得到噪声与器件缺陷、材料以及结构之间的关联, 所以电子元器件的低频噪声特性可以用作质量和可靠性检验评估方法，也可以帮助提升产品品质。

我国是电子元器件产品生产和使用大国，基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准对于促进低频噪声技术的发展应用和提高电子元器件产品品质具有重要意义。

电子元器件噪声测试起始

电子系统以及电子器件噪声测试与应用起始于洛伦兹1912年对电子随机运动的研究, 其后随着电子系统与电子器件的发展, 人们对噪声测试研究的范围也更加广泛。电子元器件低频噪声参数测试方法是制定基于低频噪声参数的电子元器件可靠性无损评价方法的基础。

电子元器件低频噪声测试相关标准

SJ/T 11765晶体管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11766光电耦合器件低频噪声参数测试方法

SJ/T 11767 二极管低频噪声参数测试方法

SJ/T 11768电阻器低频噪声参数测试方法

SJ/T 11769 电子元器件低频噪声参数测试方法 通用要求